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  • XJ3110可对单运放、双运放、四运放的8种主要参数进行手动或自动测量,所有参数均以数字显示,Z大输出幅度可用波形显示器监视。

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  • XJ4630型示波器频带宽度为1MHz,Z高灵敏度为2mV/div,Z慢扫描时间为20s/div,全程Z慢扫描时间为500S,采用内刻度长余辉CRT。

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  • 本仪器是用于测量各种半导体管特性曲线和静态参数的测量仪器,是新一代便携式图示仪。整机采用新颖电路设计技术,具备外形轻巧,操作简便,性能稳定可靠,性价比高的特点,能满足大部分半导体器件的测试要求。适合工厂生产线、大专院校教学实验和电子设备维修等领域使用。

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  • XJ4822CRT读出图示仪,外观新颖,技术先进,操作方便,能对各类二极管、三极管、场效应管等静态参数测试。光标测量数字读出给用户带来方便,二簇曲线显示对器件各类参数配对尤为方便。测试大功率器件时,可采用单次方式。配3KV测试台后Vc可达3KV。

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  • QT2型半导体管特性图示仪 可测量二极管、三极管的低频直流参数,Z大集电极电流超过50A,能满足500VA以下器件的测试。本机附有高压测装置,可对5KV以下的二极管、三极管进行击穿电压及反向漏电脑测试。其测试电流Z高灵敏度可达0.5μA/div。

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  • 上海新建XJ4810A型半导体管特性图示仪 本仪器具有二簇曲线显示,双向集电极扫描电路,可以对被测半导体器件的特司长进行对比分析,便于对管或配件配对。本仪器IR测量达200nA/div,配备扩展装置后,VC可达3KV;可测试CMOS及TTL门电路传输特性;可对场效应管进行配对或对管测试;可测试三端稳压管特性。

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  • 上海新建XJ4828,XJ4829型数字存储模拟器件特性图示仪 采用彩色LCD显示 具有数字存储功能 能满足对半导体管特性、三端稳压集成电路进行图示、参数测量 能对模拟器件进行分析、参数挑选、配对等

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  • 上海新建XJ4830型智能半导体管特性图示仪 测试开关智能控制,各种控制开关测试条件可预置、测试结果可存盘、可打印输出,并可适用PC机显示被测器件特性曲线。

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  • 新建XJ4832数字存储100A大功率半导体管特性图示仪 本机是新一代数字化测量仪器。采用新颖电路设计技术,通过微处理器集中控制整个系统的数据采集、显示、打印、存储,处理人机交互信息等。具有高集成度、高可靠性。以屏幕显示测试档级及用光标测试被测器件的各种直流参数,并可将测试结果存储、打印、随时调用。本机具有友好的人机界面,有中、英文两种语言供选择。

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  • 新建XJ4834/4833型400A大功率数字存储半导体管图示仪 具有Z大400A/200A的集电极电流和1000V的集电极扫描电压输出。 采用大电流脉冲、采样、存储等技术,满足对大功率半导体管特性进行图示、参数测量。能对大功率 半导体管特性进行分析、参数挑选、配对等,并具有计算机接口、可打印输出,并可将测试结果存储、 调用、打印。

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